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Equipo de prueba inteligente de Chip Recognition Test Machine SATA

Certificación
China Hai Da Labtester certificaciones
China Hai Da Labtester certificaciones
Comentarios de cliente
Recibimos sí la máquina la semana pasada. Esta máquina era agradable, y agradece los serives de las después-ventas, era muy profesional.

—— Peter Mosa

El probador del flujo del derretimiento está trabajando muy bueno. La entrega era más rápida que espera, sus memembers del equipo de los servies de las después-ventas eran agradables, y el soporte técnico era perfecto.

—— Steve Hubbard

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Equipo de prueba inteligente de Chip Recognition Test Machine SATA

Equipo de prueba inteligente de Chip Recognition Test Machine SATA
Equipo de prueba inteligente de Chip Recognition Test Machine SATA Equipo de prueba inteligente de Chip Recognition Test Machine SATA

Ampliación de imagen :  Equipo de prueba inteligente de Chip Recognition Test Machine SATA

Datos del producto:
Lugar de origen: China
Nombre de la marca: Haida
Certificación: ISO,CE
Número de modelo: HD-6-SATA
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1set
Precio: 5000-12000 USD
Detalles de empaquetado: Caso de madera fuerte
Tiempo de entrega: 8 días después de la orden
Condiciones de pago: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente: 150 sistemas/meses

Equipo de prueba inteligente de Chip Recognition Test Machine SATA

descripción
control: control inteligente de todas las pruebas usando software Gama de temperaturas: -70 grados a +180 grados
Componentes de hardware principales: Placas madres de la prueba de la PC de la PRUEBA tipo de prueba: pruebas anormales del apagón y pruebas de envejecimiento

Máquina de prueba de reconocimiento de chips Equipo de prueba inteligente SATA


Características clave:

  1. Soporte para la prueba de productos SATA;

  2. Soporte para la personalización del número de piezas de prueba producidas para SATA, por ejemplo, 96 piezas, 124 piezas, 196 piezas, 256 piezas, etc.;

  3. Soporte para el desarrollo de micro y pequeñas personalizaciones, por ejemplo, 6, 12, 18, etc.;

  4. Admite pruebas (-70 grados a +180 grados);

  5. Soporte para pruebas de fallas de energía anormales y pruebas de envejecimiento;

  6. Soporte para pruebas de control de temperatura automatizadas;

  7. Soporte para el control inteligente de todas las pruebas mediante software;

  8. Soporte para la personalización de software de prueba;

  9. Soporte para la igualación de la temperatura y la velocidad del aire en la cámara;

  10. Soporte para control rápido de subida y bajada de temperatura;

  11. Soporte para desarrollo personalizado de envejecimiento SATA;

  12. Soporte para control en red, lo que permite el control fuera del sitio de la prueba y la visualización de los resultados de la prueba;

  13. soporte para pruebas de control remoto de aplicaciones;


Componentes principales de la máquina:

  1. El sistema de prueba completo consta de una cámara de alta y baja temperatura, placa base de PC de PRUEBA, placas BASEBOARD y PM, accesorios de prueba ESD, cables de CABLE de datos de transmisión, paneles de fibra aislados delanteros y traseros ESD, marco principal de la plataforma operativa de pantalla táctil, tapones de sellado personalizados, ESD Soporte frontal para placa base de PC, fuente de alimentación de prueba especial, placas FPGA, etc.


Principales componentes de hardware:

  1. PRUEBA Placas base de prueba de PC;
  2. tableros de ZÓCALO;
  3. Circuitos completos de máquinas y componentes de control de potencia;
  4. accesorios de prueba ESD para productos antiestáticos;
  5. láminas de fibra aislantes delanteras y traseras antiestáticas ESD;
  6. Sellos de silicona para resistencia a altas y bajas temperaturas;
  7. Bastidores de placa base de computadora frontal antiestáticos ESD;
  8. Transmisión de datos CABLE cable;
  9. Fuentes de alimentación de prueba especiales;
  10. conmutador Gigabit;
  11. Anfitrión de la consola.


Componentes principales de la sección de software y hardware:

  1. PC de prueba: 1 juego que incluye placa base, CPU, HDD, disco duro y fuente de alimentación.El hardware de Test PC se configura principalmente de acuerdo con los siguientes PCT, BIT, MDT y FDS;
  2. Consola: un conjunto de hosts de PC táctiles de alta calidad que pueden controlar toda la operación de Test PC, es la interfaz de control para la prueba, se usa para enviar comandos de prueba y scripts de configuración, y es el centro de comando de la prueba;


Descripción del sistema de prueba integrado de hardware y software inteligente SSD SATA:

  1. El sistema de prueba inteligente PCIe SSD se basa en la plataforma del sistema operativo Win10.A través del modo de secuencias de comandos abiertas, la temperatura de la cámara de alta y baja temperatura y los elementos de prueba del producto PCIE se pueden modificar a voluntad, y los datos se pueden transferir a través del sistema LINUX y el engrasador de carreteras para lograr una operación con un solo clic. , control de red, ahorro de mano de obra, gestión inteligente de datos y retención permanente de los resultados de las pruebas.
  2. Está diseñado para la confiabilidad y la estabilidad a largo plazo de SSDPCIE, incluido el diseño de hardware, software y mecanismo, el objetivo es hacer que la prueba sea lo más automatizada posible, los elementos de configuración de prueba más flexibles, los canales de prueba disponibles más y ahorrar espacio.


características del sistema

  1. La PCBA y los dispositivos están alojados en una cámara personalizada con varias o docenas de placas de PC (dependiendo del tamaño de la cámara, cámaras pequeñas para verificación de SSD y cámaras grandes para producción de SSD).Esto ahorra espacio y aumenta la cantidad de placas que se van a probar (se pueden configurar varios juegos fácilmente).
  2. Una placa base de PC se puede conectar y probar con 6 SSD SATA al mismo tiempo, compatible con SSD tipo SATA2.0 y SATA3.0.
  3. Software de prueba personalizable de Linux y Windows, el contenido de la prueba se puede configurar mediante uno o más archivos de script.Admite varias pruebas de falla de energía, Burn-In-Test, pruebas de verificación de consumo de energía, etc.
  4. Una PC con Windows se puede conectar a varias PC del sistema de prueba a través de Ether-net, y la edición de scripts en el lado de Windows se puede usar para controlar automáticamente la temperatura de la cámara y realizar múltiples elementos de prueba.
  5. Compatibilidad con la medición y comprobación del consumo de energía de SSD.
  6. Admite la función de registro de UART para recopilar todos los mensajes enviados por cada SSD bajo prueba a través de su puerto UART (los diseños de SSD deben admitir la conexión de señales UART a pines de oro específicos).
  7. El software de prueba personalizado de Linux se conecta a la placa a través de la interfaz USB.


Prueba de ciclo de potencia:

  1. El objetivo principal de esta prueba es verificar que el SPOR está funcionando correctamente.Esto generalmente incluye las siguientes pruebas de apagado.
  2. Una vez que se han completado todos los comandos de escritura de SSD, la PC emite un comando de espera inmediato y luego se apaga.Esto se usa para SSD NOPLP CAP.
  3. Una vez que se completan todos los comandos SSDwrite, la PC se apaga inmediatamente.Después de volver a encender, se deben comparar todos los datos escritos antes del último corte de energía.
  4. (SPOR) Apagar mientras el comando de escritura aún está en progreso.Después de volver a encender, se deben comparar todos los datos escritos antes del último corte de energía.
  5. El subproceso de ejecución del programa utilizado por Write SSD no está relacionado con el subproceso de cuenta regresiva, por lo que se garantiza un apagado aleatorio.
  6. Prueba de consumo de energía.
  7. Prueba el consumo de energía durante la lectura, escritura e inactividad para descartar los SSD que consumen mucha energía.
  8. Prueba de rendimiento.
  9. Prueba el rendimiento de lectura y escritura para descartar SSD anormales.
  10. Prueba de quemado.
  11. Similar a la prueba del modo LBA Burn-In-Test de Windows, hay 7 patrones disponibles.
4 bytes, dirección de este LBA
504 bytes, patrón de datos asignado
4 bytes, marca de tiempo

 

Descripción de la PC de prueba:

  1. Test PC se utiliza principalmente para probar la pérdida de energía de SSD, comparación de lectura/escritura masiva, lectura/escritura de disco completo, prueba de envejecimiento de medios con patrones específicos, estadísticas de nuevos bloques defectuosos y pruebas de protocolo, etc. Test PCT se divide principalmente en lo siguiente categorías: PCT, BIT, MDT y FDS.
  2. PCT (Prueba de ciclo de energía): varias pruebas de pérdida de energía anormal de patrón, prueba el procesamiento de pérdida de energía y reconstrucción de algoritmos SSD, verificando la integridad de los datos durante la pérdida de energía anormal.
  3. BIT (Burn-In Test): verifica que varios patrones se leen/escriben secuencial o aleatoriamente, y el impacto de varios patrones en los medios.
  4. MDT (Multi-Drive Test): Verifica que el SSD admita los comandos de la especificación ATA1-8, envía los comandos admitidos al SSD y verifica que los resultados no tengan
  5. Los resultados serán verificados para cualquier problema.
  6. FDS (Exploración completa de la unidad): una operación de lectura y escritura de la unidad completa en la SSD para verificar que la tabla de mapeo sea correcta;


Características detalladas de la PC de prueba:

  1. Prueba de ciclo de potencia PCT
  1. Configuración de los distintos patrones;
  2. Configuración de tamaños de datos de lectura/escritura;
  3. Configuraciones de comparación de lectura/escritura secuencial versus aleatoria;
  4. verificación de la integridad de los datos de apagado anormal versus apagado normal;
  5. secuencias de comandos para controlar los tiempos de encendido y apagado;
  6. Especificación de operaciones de lectura/escritura de datos para LBA;
  7. Prueba de algoritmos SSD para el procesamiento y la reconstrucción de apagado;
  8. probar la estabilidad del UPS y los valores de demanda de carga capacitiva;
  9. Prueba de tiempos de arranque del disco;
  10. Probar la estabilidad de las funciones de administración de energía del producto;
  11. Prueba de envejecimiento de UPS de discos de prueba;
  12. Pruebas de componentes electrónicos a nivel de placa para soldadura a alta y baja temperatura;
  13. la posibilidad de usarlo para verificar la protección contra fallas de energía de los productos SSD en el mercado
  14. verificación de compatibilidad SSD con varias placas base;
  15. Verificación de Trim;
  16. Guardado automático de registros de prueba y cargas periódicas;
  1. Prueba de quemado BIT
  1. Validación de coincidencias de lectura/escritura secuencial y rendimiento para varios patrones;
  2. verificación de comparaciones aleatorias de lectura/escritura y rendimiento para varios Patten;
  3. Estadísticas sobre el impacto de varios patrones en los medios;
  4. Ensayos de envejecimiento de los distintos productos Patten;
  5. Pruebas completas y automáticas de todos los patrones;
  6. El recuento de sectores y el patrón se pueden programar;
  7. Se puede configurar el tiempo de prueba para la verificación de comparación de lectura/escritura;
  8. Conteo de nuevos bloques defectuosos durante las pruebas;
  9. Especifique el tamaño del marco para probar la funcionalidad completa del producto;
  10. Verificación de la ruta de datos entre DDR, Flash y la interfaz;
  11. Verificación de la estabilidad del rendimiento de lectura/escritura aleatoria de SSD;
  12. Guarde automáticamente los registros de prueba y cárguelos a intervalos regulares;
  1. Prueba de conducción múltiple MDT
  1. Número de sector configurable;
  2. LBA28 y LBA48 son configurables;
  3. Verificación de la compatibilidad de los protocolos de interfaz del producto;
  4. Verificación del soporte del producto para los comandos especificados en el protocolo y sus estadísticas;
  5. La posibilidad de especificar comandos para realizar pruebas relevantes en el producto;
  6. verificación de operaciones de lectura/escritura para el comando DATA y comparación de los datos;
  7. Verificación del soporte del comando No-Data;
  8. Guardado automático de registros de prueba y cargas periódicas;
  1. Exploración completa de la unidad FDS
  1. Operaciones de lectura y escritura de disco completo para verificar la corrección de la tabla de mapeo de disco y para realizar operaciones de comparación;
  2. Los números de Patrón y Sector son configurables;
  3. Temporización configurable para operaciones de lectura/escritura;
  4. Detección de Flash en busca de bloques defectuosos y bloques débiles;
  5. Validación de DDR contra todos los bloques de Flash;
  6. Verifique que la tabla de mapeo del algoritmo SSD sea correcta;
  7. Guardado automático de registros de prueba y carga regular;


Sobre nosotros:

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